提 供 商：
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司資料大小：
圖片類型：
資料類型：
PDF下載次數(shù)：
186點(diǎn)擊下載：
文件下載詳細(xì)介紹：
掃描電鏡作為一種基礎(chǔ)顯微成像工具，因具有超高的放大能力，從而被高校、科研院所、材料研發(fā)和質(zhì)量分析部門廣泛用于研發(fā)、生產(chǎn)過程。
相比于光學(xué)放大器件，掃描電子顯微鏡使用電子束進(jìn)行成像，放大、分辨能力比光學(xué)顯微鏡有非常大的提升。
圖1 金相樣品光學(xué)顯微鏡圖像 (左) 和掃描電鏡圖像 (右)
Phenom 飛納電鏡開發(fā)了*的超景深成像模式。在該模式下，掃描電鏡可以根據(jù)樣品景深進(jìn)行全視野掃描，并自動(dòng)計(jì)算視野所有位置上可以獲得清晰圖像的工作距離，隨后連續(xù)自動(dòng)曝光，終得到理論景深無(wú)限制的掃描電鏡圖像。圖 6 展示了超景深模式開啟前和開啟后的圖像對(duì)比。
圖6 超景深模式開啟前后效果對(duì)比
傳真：
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號(hào)：滬ICP備12015467號(hào)-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
